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英：Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy、英略語：TIRF microscopy, TIRFM<br/> | 英：Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy、英略語：TIRF microscopy, TIRFM<br/> | ||
同義語：Evanescent Wave Microscopy、エバネッセント場顕微鏡 | 同義語：Evanescent Wave Microscopy、エバネッセント場顕微鏡<br/> | ||
全反射蛍光顕微鏡は、細胞とカバーガラスとの接着面のごく近傍で起こる分子・細胞内器官の動態や基板表面における1分子蛍光の観察に広く用いられる手法である。この顕微鏡は、光が屈折率の異なる界面において全反射するときに、反対側にわずかにしみ出す光（エバネッセント光）を励起光として利用し、界面のごく近傍のみを照明する手法である。したがって、照明領域以外に存在する蛍光分子の励起を避け、背景光を極めて低減させることが可能となる。 | 全反射蛍光顕微鏡は、細胞とカバーガラスとの接着面のごく近傍で起こる分子・細胞内器官の動態や基板表面における1分子蛍光の観察に広く用いられる手法である。この顕微鏡は、光が屈折率の異なる界面において全反射するときに、反対側にわずかにしみ出す光（エバネッセント光）を励起光として利用し、界面のごく近傍のみを照明する手法である。したがって、照明領域以外に存在する蛍光分子の励起を避け、背景光を極めて低減させることが可能となる。 | ||
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===全反射=== | ===全反射=== | ||
屈折率の異なる2つの媒質（媒質1、媒質2）の界面に対し斜めに光を入射させると、屈折光と反射光が発生する。2つの媒質の屈折率をそれぞれn1、n2、入射角をθ1、屈折角をθ2としたとき、スネルの法則 | 屈折率の異なる2つの媒質（媒質1、媒質2）の界面に対し斜めに光を入射させると、屈折光と反射光が発生する。2つの媒質の屈折率をそれぞれn1、n2、入射角をθ1、屈折角をθ2としたとき、スネルの法則 | ||
<math>\dfrac{\sin \theta_1}{\sin \theta_2} = \dfrac{n_2}{n_1} | |||
(sinθ_1)/(sinθ_2 )=n_2/n_1 | (sinθ_1)/(sinθ_2 )=n_2/n_1 | ||
が成立する（図1A）。屈折角θ2が90°になるときの入射角を特に臨界角(critical angle)といい、 | が成立する（図1A）。屈折角θ2が90°になるときの入射角を特に臨界角(critical angle)といい、 | ||